Metrología de Superficies

La metrología de superficies es una ciencia clave para el control de calidad en la industria, ya que muchas de las propiedades de los materiales dependen de las propiedades de los materiales, que a su vez dependen del acabado de la superficie, de la presencia de defectos, de la uniformidad de los recubirmientos, o de la precisión a la hora de definir los "patterns" en la nano-micro fabricación de dispositivos electrónicos. En la era de la nanotecnología, equipos que permitan caracterizar la superficie a escala nanométrica se hacen imprescindibles, tanto para las actividades de investigación básica, como para el control de calidad en los procesos industriales. Puntas AFM Veeco se compromete a ofrecer la mejor calidad del mercado en cuanto a puntas AFM. La fábrica de nanofabricación de puntas dedicada está equipada con la más alta tecnología que permite producir puntas para las aplicaciones actuales, y también puntas especiales para las aplicaciones del futuro. Veeco fabrica las puntas AFM para cumplir con requisitos de calidad muy estrictos. Para mantener esta calidad tan elevada, recomendamos a nuestros clientes la compra de puntas en paquetes de 10 puntas, eliminando la innecesaria exposición a la contaminación que se produce al abrir múltiples veces las cajas  más grandes o al manejar wafers. Ofrecemos descuentos sustanciales cuando se compran múltiples paquetes de 10 puntas, para que nuestros clientes se puedan beneficiar de precios por compras importantes, sin comprometer la calidad ni la comodidad. Perfilometría Mecánica La perfilometría mecánica o de contacto es una técnica de análisis superficial 2D, basada en un estilete. La técnica consiste en la medida del desplazamiento vertical que se produce en el estilete mientras se realiza un barrido lineal manteniendo constante la fuerza que éste realiza sobre la superficie de la muestra. La realización de barridos sucesivos y paralelos permite componer los resultados para obtener un mapa tridimensional con resolución nanométrica en el eje vertical. Existen numerosos estiletes diferentes para las distintas aplicaciones, con radios que van desde 50nm a 25µm, y de alta relación de aspecto para la caracterización de zanjas profundas y estrechas. Microscopía de Fuerza Atómica La microscopía de fuerza atómica se basa en la interacción entre una punta muy fina y la superficie de la muestra. Se trata de provocar un desplazamiento relativo entre punta y muestra mediante un barrido fino basado en materiales piezoeléctricos. Manteniendo la interacción punta - muestra constante, se obtienen mapas tridimensionales de resolución nanométrica en los tres ejes. El uso de puntas especiales con propiedades eléctricas, térmicas o mecánicas permite asimismo la caracterización de la muestra con respecto a estas interacciones. Un gran número de aplicaciones derivadas de esta técnica se basan en la manipulación de la muestra con estas puntas, como por ejemplo nanolitografía o estiramiento ("pulling") de proteínas. Microscopía Interferométrica La microscopía interferométrica es una técnica de no contacto para la caracterización de superficies en tres dimensiones. Los objetivos interferométricos disponen de un divisor de haz que envía una parte de la luz a la superficie de la muestra y otra parte a un espejo de referencia. La luz reflejada de estas dos superficies se recombina formando bandas de interferencia que se recogen en una cámara CCD. Para cada punto de la superficie existe una distancia del objetivo a la muestra que proporciona el enfoque (definido por la intensidad máxima de pico en las bandas de interferencia). Mediante un barrido vertical se localizan los puntos de enfoque para cada punto de la muestra, generando así un mapa tridimensional de la superficie, con resolución sub-nanométrica en el eje vertical. Vanessa Gaviria CRF http://www.telstar-instrumat.com/es/productos/metrologia+de+superficies.htm